磁感應法,利用基材和覆蓋層在導磁性上的差異（基材為鐵、鈷、鎳，覆蓋層為非磁性介質）
電渦流法，利用基材和覆蓋層在導電率上的差異（基材為強導電性，覆蓋層無導電性）
磁感應法工作原理圖見圖Fig.1
磁感應法所用的F探頭，中間是一個鐵磁性的磁棒（我們稱之為磁芯），其上繞有兩段線圈，上面一段為勵磁線圈，下面一段為感應線圈。
如果給勵磁線圈加載一個低頻交變電流，就會產生穿過勵磁線圈的一個交變磁場，而磁芯正好處在這個磁場中，此時如果將磁芯靠近另一個鐵磁性物體，我們知道磁鐵相吸的原理，因此，磁芯越靠近這個鐵磁性物體，則穿過磁芯的磁場強度就越強，而磁場的強弱變化就會在下端的那個感應線圈中產生一個感應電流，這個感應電流的電壓V，其大小將隨著磁場強弱變化而變化、實際上也就是隨著磁芯離那個鐵磁性物體的遠近而變化，并且，這個電壓V的大小和磁芯離那個鐵磁性物體的遠近（也就是距離）存在可計算的關系。
因此，我們可以通過測量這個電壓V的大小來計算磁芯和那個鐵磁性物體之間的的距離，如果那個鐵磁性物體上有覆層、而磁芯又密切接觸在覆層上，這個計算出來的距離不正是覆層的厚度嗎？
電渦流法工作原理圖見圖Fig.2
電渦流法所用的N探頭，沒有中間的磁棒，而且只有一個中空的感應線圈。當給這個感應線圈加載一個高頻交變電流，就會在感應線圈的中間產生一個感應磁場。
當這個加載了高頻交變電流的線圈靠近一個非磁性的導電體時，會在這個導電體上產生一個交變電流場，我們稱之為電渦流場。而這個電渦流場又會在空間產生一個交變電磁場，其磁場方向始終與感應線圈產生的感應磁場方向相反，并因此削弱感應磁場的強度，這就導致了感應線圈的感應系數(shù)K的變化。
感應線圈離那個非磁性的導電體的遠近，決定了導電體上產生的電渦流場的強弱。電渦流場的強弱，又決定了它所引發(fā)的交變電磁場的強弱，而交變電磁場的強弱又影響了感應磁場的強弱、也因此決定了感應線圈的感應系數(shù)K的大小。
也就是說，感應系數(shù)K值的大小，與感應線圈離導電體的遠近存在可計算的關系。因此，我們可以通過測量這個感應線圈的感應系數(shù)K的大小來計算感應線圈和那個非磁性導電體的距離。如果那個非磁性導電體上有覆層、而感應線圈又密切接觸在覆層上，這個計算出來的距離不正是覆層的厚度嗎？
以磁感應法為例見圖Fig.4
如果基材仍然是平板狀的，只是涂層的厚度產生變化，我們不難想象，磁力線的整體長短會隨著涂層厚度的變化而變化，但是，其分布卻是一致的，也即是說，中心線上的磁力線長度和邊緣的磁力線長度的比例是始終不變的，因此，我們只需依據(jù)磁力線整體的變長、變短即可以計算出涂層厚度的變化來。
但是，如果實際測量時，基體的幾何形狀變了，比如，變成了圓柱體，但涂層厚度不變。磁力線會有什么樣的變化呢？我們來看看圖Fig.5
我們注意到，越靠近邊緣，與在平板基體上的試驗相比，磁力線的拉長現(xiàn)象就越明顯，這就意味著，這種情況下，感應強度的平均值必然與我們從平板基體上試驗得來的值不相等。
電渦流法與此有可以類比之處：在平板上的電渦流和柱體上的電渦流分布也是有差異的！
由此，可以得出結論：盡管儀器可能已經在標準試樣上校準了，保證了儀器（探頭）對感應信號采集、計算的敏感性、準確性，但是，在實際測量時，由于實際工件的幾何形狀、基材的物理特性與標準試樣的基準塊存在差異，因此，測量仍然會出現(xiàn)偏差。
偏差的幾種類型
外凸面的覆層測量，見圖Fig.6
通常會顯示正偏差，當曲率半徑小于一定值時，偏差會較為明顯（鐵磁性基材曲率半徑小于20mm時，導電性基材曲率半徑小于50mm時）。
內凹面的覆層測量，見圖Fig.7
通常會顯示負偏差，當曲率半徑小于一定值時，偏差會較為明顯（鐵磁性基材曲率半徑小于25mm時，導電性基材曲率半徑小于50mm時）
邊緣部分的覆層測量，見圖Fig.8
通常會顯示正偏差，當A小于5mm時，偏差會較為明顯。
靠近側壁的覆層測量，見圖Fig.9
通常會顯示負偏差，當A小于5mm時，偏差會較為明顯。
凹槽底部的覆層測量，見圖Fig.10
通常會顯示負偏差，當D小于20mm時，偏差會較為明顯。
極薄基材上的覆層測量，見圖Fig.11
對于鐵磁性基材，通常會顯示正偏差，對于導電性基材，通常會顯示負偏差。當T小于0.6mm時，偏差會較為明顯。當T小于0.1mm（鐵磁性基材）或者是小于0.01mm（導電性基材），無論是否校準，測量都不能實現(xiàn)。
噴丸表面上覆層的測量，見圖Fig.16
a，對于Rz值小于20μm的噴丸面上的覆層測量。先在無覆層的基材上面測量十次進行較零，接著將涂層試片覆蓋其上，測量五次進行校正，則測量校準完成，需要記住的是，即便完成了測量校準，在實際測量中，仍然必須多次測量取平均值。
b，對于Rz值大于20μm的噴丸面上的覆層測量。此時的情況較為復雜，需要先在同樣材質的具有光滑表面（未噴丸處理）的基材上進行校準，接著在無覆層的噴丸表面上進行測量十次取平均值，然后再再實際工件的覆層上同樣進行十次測量，再取平均值，這兩個平均值之差的**值就是覆層厚度。
“軟”覆層的測量
某些覆層質地比較軟、比較疏松，探頭接觸上之后可能會有微小的凹坑，從而影響測量。此時可以將一個確知厚度的涂層試片覆蓋其上，然后將探頭放在這層試片上，得出值減去涂層試片的值即是覆層厚度值。提示：使用30～50μm的涂層試片較為合適。
“熱”覆層的測量
某些情況下，不待完全冷卻，就需要對覆層進行測量。此時的溫度通常超過60℃，一方面，熱量會傳導給探頭的樹脂支撐環(huán)，我們知道，支撐環(huán)里面有線圈或磁芯，而它們所產生的感應場會因為過高的溫度產生變化；另一方面，我們同樣知道，基材本身的磁場和電渦流場也會因為溫度的過高變化而產生細微的畸變。
因此，在這種情況下，我們要解決兩個問題：一是盡量降低熱量的傳導，這里，我們可以用到高溫護墊，將其安裝在探頭上；二是，需要更敏感的探頭，以便辨析溫度帶來的基材本身的磁場或電渦流場的畸變。當然，這往往意味著儀器需要提供更高的精度。
介紹一種簡單可靠的應用（以外凸面為例）
先在無覆蓋層的外凸面工件進行測量，按理，本應顯示為零，但從以上的介紹可知，很可能讀值并不為零，而是正偏差的某個數(shù)，此時，并非必須較零（重要的事情說三遍），否則，強行較零可能使儀器出廠時校正的參照曲線嚴重偏移、或者干脆無法較到零位。
在此情況下，只需記下這個正偏差值，然后測量實際覆層，將取得的讀值減去這個正偏差值，即為覆層的實際讀值。
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